7月8日，2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕，本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源、第三代半導體等應用領域為年度熱門趨勢，匯聚國內外優質電子企業，旨在打造從產品設計到應用落地的橫跨產業上下游的專業展示平臺。普賽斯儀表攜半導體測試測量設備及測試解決方案亮相E7館 7162展位。

        半導體芯片器材領域作為一個光學個人信息生家產制高點，是城市發展和發展發展的戰略學習目標性、先導性和基本條件性領域， 所涉海量優秀科學性新技術。“碳達峰”、“碳中合”學習目標也一同表示和明確指出了自然能源開發結構設計變動導向，已經將高效節能降耗、節能減排城市發展走入高朝。以IGBT為代替的耗油率半導體芯片器材是電業光學設備的目標器材，也是自然能源開發轉變與接入的重要。

        在新能源汽車、光伏儲能、軌道交通、工業控制等領域，氧化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導體材料由于其具有高溫、高壓、高頻、抗輻射等特點備受青睞，可實現更高效的電子電力設備。然而，由于其上市應用時間相對較短，潛在的缺陷尚未完全暴露，失效機制也尚未清晰。因此，通過科學有效的測試測試測定方式方法，對(dui)其(qi)進行(xing)有效的評估和驗證尤為(wei)重要。

        通常，IGBT/SiC/GaN功率半導體器件特性測試分為靜態特性測試和動態特性測試，靜態特性測試主要是表征器件本征特性指標，如擊穿電壓 V(BR)DSS、漏電流ICES/IDSS/IGES/IGSS、閾值電壓VGS(th)、跨導Gfs、壓降VF 、導通內阻RDS(on)等(deng)；動態特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)是功率(lv)半導(dao)體(ti)器件的(de)重(zhong)要特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)，如開通特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、關斷特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、FRD反向恢復特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、柵(zha)極電荷特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、短路特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、模塊(kuai)電感特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)、安全(quan)工(gong)作區SOA特(te)(te)(te)(te)性(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)等(deng)，主(zhu)要采用雙脈沖測(ce)(ce)試(shi)(shi)進行。

深度融合

  功率半導體電性能表征一站式解決方案  

                普賽斯儀表盤以管理處源表為管理處，焦點熱效率半導檢查供給，從框架產品研發入手，著力著力推進多維高技術應用的就結合創新發展，對管理處高技術應用攻堅戰克難，展會信息環境文物展了熱效率半導空態檢查成一體板處理好方案范文。

PMST系列功率器件靜態參數測試系統

        PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測量和分析功能于一體，不僅提供IV、CV、跨導等多元化的測試功能，具備高電壓和大電流特性（10kV/6000A），以及μΩ級精確電阻測量和nA級漏電流測量能力，能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試需求。主要主要儀表盤均數字化新產品研發，憑借其優(you)異的性能、靈(ling)活(huo)的配置和易操(cao)作的用戶界面，成為眾多功率半(ban)導體廠(chang)家(jia)靜(jing)態參數測試的優(you)選工(gong)具。

SPA6100半導體技術產品參數進行檢測儀

        SPA6100半導體參數分析儀可以同時支持DC直流電阻-電阻(I-V)、電感-電阻(C-V)以及高流高電壓下脈沖信號式I-V特質的測試。產品支持最高1200V相電壓、100A大功率、1pA小功率辨別好壞率的(de)(de)測(ce)(ce)量，同時檢測(ce)(ce)10kHz至1MHz范圍內(nei)的(de)(de)多頻AC電容測(ce)(ce)量。搭載專用半導(dao)體參數測(ce)(ce)試軟(ruan)件,支持交互式(shi)手動(dong)操作或結合探針臺的(de)(de)自動(dong)操作,能夠從測(ce)(ce)量設置、執行、結果分(fen)析到數據(ju)管理(li)的(de)(de)整(zheng)個過(guo)程，實現高效和可(ke)重(zhong)復的(de)(de)器件表征(zheng)；也可(ke)與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測(ce)(ce)試需求。

        不但，為適應性各項熱效率電子元器件打包封裝類別的標準，普賽斯智能儀表可帶來了貨品化、精巧化、私人訂制化的組合夾具應對規劃，可遍及TO單管、半橋模組、380V半橋模組等貨品的公測。

        展會現場，普賽斯儀表還展示了自主研發的核心源表型號(SMU)、電脈沖恒流源 (FIMV)、直流電交流電源 (FIMV、FVMI)、數值收采卡等產品，以及從材料、晶圓(yuan)到(dao)器件的半導體全(quan)產業(ye)鏈(lian)電性能測試解決方案，吸引了眾(zhong)多業(ye)內人士(shi)的關注。

結語

        低碳化、智能化是整個電子信息產業的長遠發展目標，也是未來的主旋律，而實現目標需要產業鏈的協同努力。準確有效率的測試儀的設備，是半導體市場市場發展趨勢和不斷進步不可以或缺的至關重要教學環節中之一。

        普賽斯汽車儀表盤看做境內首間取得勝利改變高精細源/檢測的第一單元SMU工業化的公司企業，應有這么多年的新技術工藝積聚和技術工藝信息化科技成果，明天將不斷保持技術工藝信息化帶動、持續性加高科研開發投放，以選擇異的測試方法新技術工藝電子助力工業發展方向!