1、MPD晶圓測試
測試設備：脈沖激(ji)光(guang)源表P300+探頭臺
異常現象：測試中存在(zai)一個3nA左右的漏電流
異常原因：測試現場的連(lian)接(jie)線屏蔽(bi)層接(jie)地(di)不達標(biao)，外界電(dian)磁環境的作用下使設(she)備對大地(di)的電(dian)位(wei)發生變化，造成設(she)備工作不穩定 優化措施：將屏蔽層接地 2、三極管測試 測試設備：2臺(tai)直流變壓(ya)器源(yuan)表S300+電極臺(tai) 異常現象：源(yuan)表(biao)輸出0-3V的電(dian)壓掃(sao)描，當(dang)輸出的電(dian)壓小于0.5V時，源(yuan)表(biao)回讀的電(dian)壓值為-0.5V 異樣愿意：測(ce)試(shi)軟件(jian)檢測(ce)器臺也沒有接(jie)地線，測(ce)試(shi)軟件(jian)檢測(ce)器臺的(de)結(jie)構上出現材料，在通電的(de)自然環境下能出現靜電放電，故(gu)而(er)對測(ce)試(shi)軟件(jian)成果創造印象(xiang) 優化調整政策：將電(dian)極臺使用電(dian)線應(ying)用沃土 3、芯片測試 測試設備：交流電(dian)源表S300+測(ce)試探針臺 異常現象：源表未輸出精(jing)度，電極冒煙花
圖：無效測試圖片-探頭冒電火花
異常原因：三同軸網纜GUARD移動數據走勢傾斜。GUARD移動數據走勢如相連接對的，其電勢與移動數據走勢層基本的高度，但漏電有大有小，然而對移動數據走勢具有新一定的守護功能；但GUARD移動數據走勢傾斜，其與移動數據走勢層的電勢差較多，這漏電較多，對移動數據走勢的反應很多 優化措施：將GUARD數(shu)據(ju)(ju)數(shu)據(ju)(ju)信息連結源表，使GUARD數(shu)據(ju)(ju)數(shu)據(ju)(ju)信息具備保(bao)護好影(ying)響
4、PD測試
測試設備：直流源表S300+探針(zhen)臺
異常現象：源表在100nA的量程下，輸出-2V電壓，實際顯(xian)示-2.69V
圖：異(yi)常(chang)處理測試(shi)圖片導致
異常原因：客戶使用(yong)的(de)同軸(zhou)線接觸(chu)不良，探(tan)針臺沒(mei)有接地 優化措施：更(geng)換(huan)新的(de)同軸線(xian)，將(jiang)探針臺(tai)通過導線(xian)接入大地 圖：調優后(hou)檢驗最后(hou)
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